系統結構本測試系統由被測體系、具有外接記錄儀輸出電壓的電導率儀、自制調理電路、數據采集卡PCI2005和計算機構成。電導率儀將被測體系的電導率變化從外接記錄儀輸出口輸出到自制的調理電路。調理電路由1只低漂移OP07和1只高增益型CA741兩塊集成運放構成差動放大器和二階有源低通濾波器，完成信號的放大和濾波。經調理電路后的直流信號輸入采集卡進行A/D轉換后，計算機在LabVIEW平臺上，自動完成數據采集、數據處理等測試任務。

　　上述系統配置中，電導率儀只要備有記錄儀輸出均可，作者選用的是DDS-307型。其它型號的數據采集卡只要安裝上相應的驅動程序均可。計算機需有空閑的PCI插槽。

　　電導率校正程序設計數據采集卡采集的電壓信號代表的物理量是電導率值，電導率儀在不同量程時其輸出電壓與其對應電導率值是不同的，故在測量前應分別在不同量程下進行校正，準確得到其輸出電壓和電導率值的關系。

　　根據所使用電導率儀，設計LabVIEW程序予以校正。在某一量程下，測定一系列不同電導率值，并用計算機同步的記錄對應一系列經調理電路處理的電壓信號，然后將電導率值輸入到一文件中，調用校正程序，通過多項式擬合，自動得到最佳關系方程式，其程序框圖如所示。程序采用事件結構，每個事件對應校正面板中的一個控制按鈕，多項式擬合由函數GeneralPolynomialFit完成，方程式由函數PickLine組合成字符串，最后由StringControl顯示。

　　數據處理程序設計電導滴定的關鍵問題是準確地確定滴定終點。根據電導滴定原理，虛擬儀器數據處理程序的關鍵是準確確定其突變點，其數據處理程序如所示。程序首先從已采集的電導率文件和體積文件中讀取數據，自動轉化為電導率數組和體積數組。由函數ArraySubset分別從電導率數組和體積數組依次各取相對應5個元素分別作為y值和x值，用函數LinearFitCoefficients以最小二乘法規則進行直線擬合，求得該直線的斜率，然后分別求得相鄰兩直線斜率的差值，由函數ArrayMaxMin從斜率差值數組中獲得其絕對值最大元素所對應的索引號，根據此索引號就可準確地確定電導率的突變點。以該轉折點為分界點，用函數Split1DArray分別將電導率數組和體積數組分為相應的兩段，由函數LinearFit分別對兩數組的前后兩段進行直線擬合，得到兩直線的斜率和截距分別為A1、A2和B1、B2，則兩直線交點對應滴定劑的體積為V=（B2-B1）/（A1-A2）。再根據被測物質的體積、滴定劑的濃度以及其滴定計量比即可求得被測物質的濃度。同時原始數據和分段后擬合的兩直線分別經函數Bundle綁定后由ExpressXYGraph同時顯示，以便操作者直接觀察實驗結果是否正確。

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